NONDK Probador de Curva Vi, Herramienta de Inspección de Diagnóstico Automotriz de Doble Canal con Pantalla de 1,3 Pulgadas para Reparación de Prueba de Placa de Circuito

ha pasado Las pruebas en nodos circuito (pines dispositivo) básicamente no están limitadas por el embalaje los componentes en placa circuito.Dado que un solo dispositivo puede considerarse como placa circuito más simple,tecnología ASA también se puede utilizar para detectar calidad dispositivos integrados gran escala,complejos o desconocidos.hecho,debido a limitaciones,ASA es única forma que tienen muchos usuarios detectar dichos dispositivos. Además,ASA es conveniente e intuitivo para funcionalidad componentes discretos.El método de resistencia del VI es el mismo que el de un multímetro, pero el voltaje de resistencia del multímetro es menor y este instrumento utiliza señales de CA para excitar los nodos del circuito. El análisis la curva VI, también conocido como ASA, no involucra principios circuito y no requiere que el circuito esté en condiciones funcionar. Por lo tanto, se puede utilizar para la detección fallas en placas circuito separadas del equipo (no se requiere detección en línea) y no es necesario extraer datos; Está estrictamente transportar energía o medir capacitancia no descargada. Dado que la placa circuito no requiere energía, la placa circuito es relativamente más segura. No implica la función del dispositivo en la placa de circuito, por lo que no importa de qué tipo de dispositivo esté compuesto el circuito, digital, analógico, híbrido digital-analógico, función conocida, (como dedicada, programable). ), etc., se puede ; Dado que la amplitud y la frecuencia son ajustables, la amplitud cercana al voltaje de trabajo se puede utilizar para la excitación y los gráficos medidos serán más realistas. Los nodos defectuosos se pueden encontrar mediante comparación. Dado que la corriente aplicada a los componentes es , esta tecnología no afecta ni daña ningún componente. ASA tiene muchas ventajas y ha demostrado ser una tecnología de diagnóstico de fallas rápida y efectiva.